Belagt siliciumlinse monokrystallinsk silicium specialbelagt AR antirefleksfilm

Kort beskrivelse:

En belagt monokrystallinsk siliciumlinse er et funktionelt optisk element baseret på monokrystallinsk silicium (Si) med høj renhed ved hjælp af præcis optisk behandling og belægningsteknologi. Monokrystallinsk silicium har fremragende lystransmission i det infrarøde bånd (1,2-7 μm), og kombineret med belægninger som antirefleksfilm (AR), højreflektionsfilm (HR) eller filterfilm kan det forbedre transmissions- eller reflektionsydelsen i specifikke bånd betydeligt. Produkterne anvendes i vid udstrækning inden for infrarød billeddannelse, laseroptik og halvlederdetektion.

Send e-mail til os

Funktioner

Egenskaber ved belagt silikonelinse:

1. Optisk ydeevne:
Transmittansområde: 1,2-7 μm (nær infrarød til melleminfrarød), transmittans >90 % i det atmosfæriske vinduesbånd på 3-5 μm (efter belægning).
På grund af det høje brydningsindeks (n≈ 3,4@4μm) bør en antireflektionsfilm (såsom MgF₂/Y₂O₃) belægges for at reducere tab af overfladereflektion.

2. Termisk stabilitet:
Lav termisk udvidelseskoefficient (2,6 × 10⁻⁶/K), høj temperaturbestandighed (driftstemperatur op til 500 ℃), egnet til højtydende laserapplikationer.

3. Mekaniske egenskaber:
Mohs hårdhed 7, ridsefasthed, men høj sprødhed, kræver beskyttelse mod kantafskæring.

4. Belægningsegenskaber:
Customized anti-reflection film (AR@3-5μm), high reflection film (HR@10.6μm for CO₂ laser), bandpass filter film, etc.

Anvendelser af belagte silikonelinser:

(1) Infrarødt termisk billeddannelsessystem
Som en kernekomponent i infrarøde linser (3-5 μm eller 8-12 μm bånd) til sikkerhedsovervågning, industriel inspektion og militært nattesynsudstyr.

(2) Laseroptisk system
CO₂-laser (10,6 μm): Højreflektorlinse til laserresonatorer eller strålestyring.

Fiberlaser (1,5-2 μm): Antireflektionsfilmlinse forbedrer koblingseffektiviteten.

(3) Halvledertestudstyr
Infrarødt mikroskopisk objektiv til detektering af waferdefekter, modstandsdygtig over for plasmakorrosion (særlig belægningsbeskyttelse kræves).

(4) spektrale analyseinstrumenter
Som en spektral komponent i Fourier infrarødt spektrometer (FTIR) kræves høj transmittans og lav bølgefrontforvrængning.

Tekniske parametre:

Belagte monokrystallinske siliciumlinser er blevet en uerstattelig nøglekomponent i infrarøde optiske systemer på grund af deres fremragende infrarøde lystransmission, høje termiske stabilitet og brugerdefinerede belægningsegenskaber. Vores specialiserede, brugerdefinerede tjenester sikrer den bedste ydeevne af linser i laser-, inspektions- og billeddannelsesapplikationer.

Standard	Høje priser
Materiale	Silicium
Størrelse	5mm-300mm	5mm-300mm
Størrelsestolerance	±0,1 mm	±0,02 mm
Klar blændeåbning	≥90%	95%
Overfladekvalitet	60/40	20/10
Koncentration	3'	1'
Brændviddetolerance	±2%	±0,5%
Belægning	Ubelagt, AR, BBAR, Reflekterende

XKH Kundeservice

XKH tilbyder fuld procestilpasning af belagte monokrystallinske siliciumlinser: Fra valg af monokrystallinsk siliciumsubstrat (resistivitet >1000Ω·cm), præcisions optisk behandling (sfærisk/asfærisk, overfladenøjagtighed λ/4@633nm), brugerdefineret belægning (antirefleks/høj refleksion/filterfilm, understøtter multibåndsdesign) til streng testning (transmissionshastighed, laserskadetærskel, miljøpålidelighedstest), understøtter små serier (10 stk.) til storskalaproduktion. Vi leverer også teknisk dokumentation (belægningskurver, optiske parametre) og eftersalgssupport for at opfylde de krævende krav til infrarøde optiske systemer.