xinkehui-logo
  • Hjem
  • Selskab
    • Om Xinkehui
    • Download
  • Produkter
    • Substrat
      • Safir
      • SiC
      • Silicium
      • LiTaO3_LiNbO3
      • AlN
      • InP
      • GaAs
      • Andet glas
      • InSb
    • Optiske produkter
      • Kvarts, BF33 og K9
      • Safirglas
      • Safirrør og -stang
      • Safirvinduer
    • Epitaksialt lag
      • GaN Epitaxy wafer
    • Keramiske produkter
    • Waferbærer
    • Halvlederudstyr
    • Syntetisk safir ædelsten
    • Metal enkeltkrystalmateriale
  • Nyheder
  • Kontakte
English
  • Hjem
  • Produkter
  • Substrat

Kategorier

  • Substrat
    • Safir
    • SiC
    • Silicium
    • LiTaO3_LiNbO3
    • AlN
    • GaAs
    • InP
    • InSb
    • Andet glas
  • Optiske produkter
    • Kvarts, BF33 og K9
    • Safirglas
    • Safirrør og -stang
    • Safirvinduer
  • Epitaksialt lag
    • GaN Epitaxy wafer
  • Keramiske produkter
  • Waferbærer
  • Syntetisk safir ædelsten
  • Halvlederudstyr
  • Metal enkeltkrystalmateriale

Udvalgte produkter

  • 8 tommer 200 mm 4H-N SiC wafer ledende dummy forskningskvalitet
    8 tommer 200 mm 4H-N SiC waferleder...
  • 150 mm 6 tommer 0,7 mm 0,5 mm safirwafersubstratbærer C-plan SSP/DSP
    150 mm 6 tommer 0,7 mm 0,5 mm safir...
  • 4 tommer safirwafer C-plan SSP/DSP 0,43 mm 0,65 mm
    4 tommer safirwafer C-plane SS...
  • Safirvindue Safirglaslinse Enkeltkrystal Al2O3materiale
    Safirvindue Safirglas l...
  • Dia50,8 mm safirwafer safirvindue med høj optisk transmission DSP/SSP
    Dia50,8 mm safirplade safir...
  • 50,8 mm/100 mm AlN-skabelon på NPSS/FSS AlN-skabelon på safir
    50,8 mm/100 mm AlN-skabelon på NPS...

Substrat

  • 2 tommer, 4 tommer, 6 tommer mønstret safirsubstrat (PSS), hvorpå GaN-materiale dyrkes, kan bruges til LED-belysning

    2 tommer, 4 tommer, 6 tommer mønstret safirsubstrat (PSS), hvorpå GaN-materiale dyrkes, kan bruges til LED-belysning

  • 4H-N/6H-N SiC Wafer Reasearch produktion Dummy grade Dia150mm Siliciumcarbid substrat

    4H-N/6H-N SiC Wafer Reasearch produktion Dummy grade Dia150mm Siliciumcarbid substrat

  • Au-belagt wafer, safirwafer, siliciumwafer, SiC-wafer, 2 tommer, 4 tommer, 6 tommer, guldbelagt tykkelse 10 nm, 50 nm, 100 nm

    Au-belagt wafer, safirwafer, siliciumwafer, SiC-wafer, 2 tommer, 4 tommer, 6 tommer, guldbelagt tykkelse 10 nm, 50 nm, 100 nm

  • Guldplade siliciumwafer (Si Wafer) 10nm 50nm 100nm 500nm Au Fremragende ledningsevne til LED

    Guldplade siliciumwafer (Si Wafer) 10nm 50nm 100nm 500nm Au Fremragende ledningsevne til LED

  • Guldbelagte siliciumskiver 2 tommer, 4 tommer, 6 tommer. Guldlagtykkelse: 50 nm (± 5 nm) eller tilpasset belægningsfilm Au, 99,999 % renhed.

    Guldbelagte siliciumskiver 2 tommer, 4 tommer, 6 tommer. Guldlagtykkelse: 50 nm (± 5 nm) eller tilpasset belægningsfilm Au, 99,999 % renhed.

  • AlN-på-NPSS-wafer: Højtydende aluminiumnitridlag på ikke-poleret safirsubstrat til højtemperatur-, højeffekt- og RF-applikationer

    AlN-på-NPSS-wafer: Højtydende aluminiumnitridlag på ikke-poleret safirsubstrat til højtemperatur-, højeffekt- og RF-applikationer

  • AlN på FSS 2 tommer 4 tommer NPSS/FSS AlN-skabelon til halvlederområde

    AlN på FSS 2 tommer 4 tommer NPSS/FSS AlN-skabelon til halvlederområde

  • Galliumnitrid (GaN) epitaksialt dyrket på safirwafere 4 tommer og 6 tommer til MEMS

    Galliumnitrid (GaN) epitaksialt dyrket på safirwafere 4 tommer og 6 tommer til MEMS

  • Præcisionslinser af monokrystallinsk silicium (Si) – brugerdefinerede størrelser og belægninger til optoelektronik og infrarød billeddannelse

    Præcisionslinser af monokrystallinsk silicium (Si) – brugerdefinerede størrelser og belægninger til optoelektronik og infrarød billeddannelse

  • Tilpassede højrenheds-enkrystal-siliciumlinser (Si) – skræddersyede størrelser og belægninger til infrarøde og THz-applikationer (1,2-7 µm, 8-12 µm)

    Tilpassede højrenheds-enkrystal-siliciumlinser (Si) – skræddersyede størrelser og belægninger til infrarøde og THz-applikationer (1,2-7 µm, 8-12 µm)

  • Tilpasset safirtrinnet optisk vindue, Al2O3 enkeltkrystal, høj renhed, diameter 45 mm, tykkelse 10 mm, laserskåret og poleret

    Tilpasset safirtrinnet optisk vindue, Al2O3 enkeltkrystal, høj renhed, diameter 45 mm, tykkelse 10 mm, laserskåret og poleret

  • Højtydende safirtrinsvindue, Al2O3 enkeltkrystal, transparent belagt, tilpassede former og størrelser til præcisionsoptiske applikationer

    Højtydende safirtrinsvindue, Al2O3 enkeltkrystal, transparent belagt, tilpassede former og størrelser til præcisionsoptiske applikationer

<< < Forrige123456Næste >>> Side 3 / 11

NYHEDER

  • Optiske siliciumcarbidbølgeleder-AR-briller: Fremstilling af halvisolerende substrater med høj renhed
    08/08/2025

    Optisk siliciumcarbidbølgeleder AR-briller: Fremstilling af halvisolerende substrater med høj renhed...

  • Heteroepitaxial vækst af 3C-SiC på siliciumsubstrater med forskellige orienteringer
    08/08/2025

    Heteroepitaxial vækst af 3C-SiC på siliciumsubstrater med forskellige orienteringer

  • Siliciumcarbidkeramik vs. halvledersiliciumcarbid: Det samme materiale med to forskellige skæbner
    30/07/2025

    Siliciumcarbidkeramik vs. halvledersiliciumcarbid: Det samme materiale med to forskellige di...

  • Fremskridt inden for teknologier til fremstilling af keramik med høj renhed af siliciumcarbid
    30/07/2025

    Fremskridt inden for teknologier til fremstilling af keramik med høj renhed af siliciumcarbid

  • Tekniske principper og processer for LED epitaksiale wafere
    25/07/2025

    Tekniske principper og processer for LED epitaksiale wafere

KONTAKTE

  • Rm1-1805, No.851, Dianshanhu Road; Qingpu område; Shanghai City, Kina//201799
  • +86 158 0194 2596
  • +86 187 0175 6522
  • eric@xkh-semitech.com
  • doris@xkh-semitech.com

FORESPØRGSEL

For forespørgsler om vores produkter eller prisliste, bedes du venligst give os din e-mail, og vi vil kontakte dig inden for 24 timer.

  • Facebook
  • Twitter
  • LinkedIn
  • YouTube
Indsend
© Ophavsret - 2010-2023: Alle rettigheder forbeholdes. Sitemap - AMP Mobil
Tilpasset, Sic Wafer, Siliciumcarbidwafere, Sic-substrat, 6 tommer, Safirrør,
Online-undersøgelse
  • Send e-mail
  • x
    • whatsapp

      +86 15801942596 +86 18701756522

    • qq

      eric@xkh-semitech.com doris@xkh-semitech.com

    • whatsapp

      +86 15801942596 +86 18701756522

    Tryk Enter for at søge eller ESC for at lukke
    • English
    • French
    • German
    • Portuguese
    • Spanish
    • Russian
    • Japanese
    • Korean
    • Arabic
    • Irish
    • Greek
    • Turkish
    • Italian
    • Danish
    • Romanian
    • Indonesian
    • Czech
    • Afrikaans
    • Swedish
    • Polish
    • Basque
    • Catalan
    • Esperanto
    • Hindi
    • Lao
    • Albanian
    • Amharic
    • Armenian
    • Azerbaijani
    • Belarusian
    • Bengali
    • Bosnian
    • Bulgarian
    • Cebuano
    • Chichewa
    • Corsican
    • Croatian
    • Dutch
    • Estonian
    • Filipino
    • Finnish
    • Frisian
    • Galician
    • Georgian
    • Gujarati
    • Haitian
    • Hausa
    • Hawaiian
    • Hebrew
    • Hmong
    • Hungarian
    • Icelandic
    • Igbo
    • Javanese
    • Kannada
    • Kazakh
    • Khmer
    • Kurdish
    • Kyrgyz
    • Latin
    • Latvian
    • Lithuanian
    • Luxembou..
    • Macedonian
    • Malagasy
    • Malay
    • Malayalam
    • Maltese
    • Maori
    • Marathi
    • Mongolian
    • Burmese
    • Nepali
    • Norwegian
    • Pashto
    • Persian
    • Punjabi
    • Serbian
    • Sesotho
    • Sinhala
    • Slovak
    • Slovenian
    • Somali
    • Samoan
    • Scots Gaelic
    • Shona
    • Sindhi
    • Sundanese
    • Swahili
    • Tajik
    • Tamil
    • Telugu
    • Thai
    • Ukrainian
    • Urdu
    • Uzbek
    • Vietnamese
    • Welsh
    • Xhosa
    • Yiddish
    • Yoruba
    • Zulu
    • Kinyarwanda
    • Tatar
    • Oriya
    • Turkmen
    • Uyghur