8 tommer siliciumwafer P/N-type (100) 1-100Ω dummy genbrugssubstrat

Kort beskrivelse:

Stort lager af dobbeltsidede polerede wafere, alle wafere fra 50 til 400 mm i diameter. Hvis din specifikation ikke er tilgængelig på lager, har vi etableret langvarige relationer med mange leverandører, der er i stand til at specialfremstille wafere, der passer til enhver unik specifikation. Dobbeltsidede polerede wafere kan bruges til silicium, glas og andre materialer, der almindeligvis anvendes i halvlederindustrien.

Send e-mail til os

Produktdetaljer

Produktmærker

Introduktion af waferboks

8-tommer siliciumwaferen er et almindeligt anvendt siliciumsubstratmateriale og bruges i vid udstrækning i fremstillingsprocessen for integrerede kredsløb. Sådanne siliciumwafere bruges almindeligvis til at fremstille forskellige typer integrerede kredsløb, herunder mikroprocessorer, hukommelseschips, sensorer og andre elektroniske enheder. 8-tommer siliciumwafere bruges almindeligvis til at fremstille chips af relativt store størrelser, med fordele, herunder et større overfladeareal og muligheden for at fremstille flere chips på en enkelt siliciumwafer, hvilket fører til øget produktionseffektivitet. 8-tommer siliciumwaferen har også gode mekaniske og kemiske egenskaber, hvilket er egnet til storstilet produktion af integrerede kredsløb.

Produktfunktioner

8" P/N-type, poleret siliciumwafer (25 stk.)

Orientering: 200

Modstand: 0,1 - 40 ohm•cm (Kan variere fra batch til batch)

Tykkelse: 725 +/- 20 um

Prime/Skærm/Testkarakter

MATERIALE EGENSKABER

Parameter	Karakteristisk
Type/doteringsmiddel	P, Bor N, Fosfor N, Antimon N, Arsen
Orienteringer	<100>, <111> afskæringsretninger i henhold til kundens specifikationer
Iltindhold	10¹⁹ppmA Tilpassede tolerancer efter kundens specifikation
Kulstofindhold	< 0,6 ppmA

MEKANISKE EGENSKABER

Parameter	Prime	Overvåg/test A	Prøve
Diameter	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Tykkelse	725±20µm (standard)	725±25µm (standard) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Sløjfe	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Indpakning	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Kantafrunding	SEMI-STD
Mærkning	Kun primær halvlejlighed, halvlejligheder i standardstil Jeida-lejlighed, hak

Parameter	Prime	Overvåg/test A	Prøve
Kriterier for forsiden
Overfladetilstand	Kemisk Mekanisk Poleret	Kemisk Mekanisk Poleret	Kemisk Mekanisk Poleret
Overfladeruhed	< 2°C	< 2°C	< 2°C
Forurening Partikler ved >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Dis, Gruber Appelsinskal	Ingen	Ingen	Ingen
Sav, mærker Striber	Ingen	Ingen	Ingen
Kriterier for bagsiden
Revner, kragetæer, savmærker, pletter	Ingen	Ingen	Ingen
Overfladetilstand	Ætset ætset